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SVET简介

SVET扫描振动探针技术在二十世纪七十年代时最初的设计是用于检测活细胞附件的细胞外电流（L.F.Jaffe,R.Nuccitelli, 1974），首次开发将其用于局部腐蚀过程研究是在二十世纪八十年代（H.S.Isaacs,1988），SVET可以在最小速度大约50ms 每扫描点时测量电压梯度低至 nV 级，主要用于测试样品的电流密度，电压梯度不会受到探针振动的影响，典型的振动频率为200Hz-1KHz。正弦波振荡器驱动的压电晶片以产生二维振动，四轴步进马达驱动套件（CMC-4）控制扫描， SVET 系统也具有微区扫描电化学阻抗谱（SLEIS）测试能力，SVET 扫描振动探针的设置和SIET相同，只是将离子或极谱电极夹头换为振动电极组件，将输出给 IPA-2放大器的信号更换为输出给 PSDA-2放大器。（注意：SIET/SPET 扫描可以与 SVET/SLEIS扫描交替进行，但需要2个3维步进电动操纵器和2个 CMC-4系统）。

SVET 系统框图

振动联动装置被两个独立的正弦波振荡器的不同频率的信号所驱动，使振动电极以lissajous 曲线运动，联动装置在两个平面振动，一个垂直于样品，一个与样品平行；另外还有 pi 联动装置，探针在两个水平面上振动，主要用于象胚胎或其他不平整的组织样品。